X射线荧光膜厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025*0.051毫米。X-Strata920系列采用开槽式样品室，它可提供三种规格的样品台供用户选用，分别为:

　　1、标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

　　2、加深台:可调高度型标准样品台，XY轴手动控制，Z轴自动控制。

　　3、程控样品台:XYZ轴自动控制。

　　镀层膜厚仪的配置:

　　1、测试仪主机；

　　2、联想计算机，Windows10中文版，SmarkLink FP分析软件包；

　　3、17寸液晶显示屏；

　　4、喷墨打印机；

　　5、标准片组件（满足镀层所需）。

　　膜厚仪配置了X射线系统:

　　垂直下照式X射线光学系统，50W（50KV，10mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑。

　　膜厚仪准直器:

　　单准直器组件；多准直器自动控制组件；最多可同时装配6种规格的准直器；圆形、矩形多种规格尺寸任选。

　　多种准直器的规格任意搭配，挑选适合用的规格。