| Eon-LT™温度与薄膜厚度测量监测器是一个基于电脑的薄膜厚度监测器，远远优于优于传统的监测器，传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合，在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。 为什么要测量温度？因为加热过程导致晶体的频率变化，毫无疑问等于镀膜引起的频率变化，对大多数速率测量，在正常操作会存在10%的误差，最糟糕的情况，会产生100%的误差。如果你的测量总是出错，那就是我们为什么要用Eon-LT™温度测量薄膜厚度监测器来测量。 特点:< 附加精密的温度测量< 与最新、直观的 Eon™软件通信< 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图< 支持挡板的接通和断开< 通信:RS-232, USB, 和 WiFi< 双通道扩展能力< 包括所有的连接电缆、软件和操作手册< 驱动晶体6MHz,1-200Ω, 任何类型（石英、超级石英）< 两个K型热电偶输入，精确到+/-0.25°C< 两个高分辨传感头，输入精度达到0.001Hz< 24V电源< 工业标准的RS232通信协议< 尺寸:4.5英寸 x 2.5英寸 x 1英寸< 两个用户可选的传输口< LED状态指示 |