仪器用途:

　　该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及精确测量行业。

　　仪器特点:

　　超高的工作距离，采用电机升降（日本“信浓”步进电机），方便调节，自带DIC装置插槽。

　　规格参数

　　仪器型号 RX-200 RX-300

　　光学系统 无限远光学系统、物镜管镜聚焦200mm、齐焦距离95mm

　　目镜筒 铰链式三目镜筒、30度倾斜、瞳距55—75mm

　　目镜 高眼点、大视场目镜WF10X/22

　　物镜转盘 5孔物镜转换器

　　明场物镜（N、A） 平场半复消色差物镜 5X/0.14、10X/0.25、20X/0.40

　　物镜工作距离 W.D:10.8mm、10mm、4.0mm

　　偏光系统 光谱范围:480-550mm，含起偏镜、检偏镜

　　照明方式 12V 50W卤素灯落射照明、10WLED透射照明

　　粗调方式 电机升降（日本“信浓”步进电机） 200mm升降范围

　　微调方式 手动微调、微动格值0.002册、40mm升降范围

　　DIC装置 自带DIC装置插槽

　　载物台 8英寸快速移动平台（200X100mm有效行程） 12英寸速移平台（300X200mm有效行程）

　　数显分辨率 0.5μm

　　测量误差 （2+L/250）μm

　　数显装置 DP-100

　　摄影接口 0.5X摄影接口

　　CCD 美国"TEO"43万像素彩色CCD

　　测量软件 RJ-J金相专用测量软件

　　选购件 50X/0.60 / 100X/0.55物镜（W.D 12.5)

　　RX-J测量软件介绍

　　1、自动测量功能:鼠标自动找直线、点选圆、框选圆区域自动圆、自动圆弧

　　2、手动CNC:在有夹具的情况下面可以进行半自动测量

　　3、光学测高功能

　　4、光学测量平面度

　　5、辅助对焦:帮助找到最清晰时候的Z位置 （辅助调焦提高测量精度）

　　6、图片输出:测量结果可以图片的格式输出 （相当于数码相机功能）

　　7、形位公差:圆度，直线度，平行度，垂直度，同心度

　　8、设置公差:可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示

　　9、CCD矫正:矫正图像畸变

　　10、轮廓跟踪:通过软件自动计算出工件的轮廓并显示出来 （清晰显示测量位置）

　　11、矢量绘图功能:图元字体可以无级的放大缩小

　　12、标注功能:半径标注,直径标注,角度标注,线性标注,对齐标注,文字标注,坐标标注

　　13、命令行:可以由命令行直接输入坐标信息，生成点、直线、圆、圆弧等，满足特殊需要

　　14、地图测量:可把所拍的工件局部照片精密的整合成工件全图，并保存为高像素的照片。还可打开以前所拍的地图，直接进行绘图、标注、修改等操作（合成大图片）

　　15、虚拟测量:虚拟测量技术使影像测量软件可脱离硬件机台。在没有机台和产品的情况下，软件同样可以测量产品的尺寸 （可以脱机测量）

　　16、二维抄数:可将产品外形描出，描出的图形可转入AutoCAD形成工程图，可以做逆向工程

　　17、SPC分析:可以计算CA、CP、CPK、DRL、DRR、DR、MAX、MIN、AVG、RANGE、STD，并可以绘出X-R图，散点图，折线图，