FT-391系列手持式四探针方阻测试仪详情介绍

　　FT-391 Series handheld four-probe resistance tester

　　概述Overview:

　　参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外型结构，可充电式电源系统，超长待机，上下限设定.

　　功能介绍Function introduction:

　　便携式外型结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.

　　技术参数Technical Parameters:

　　规格型号Specification model

　　FT-391A

　　FT-391B

　　FT-391C

　　1.方块电阻范围sheet resistance

　　10～2.00×102Ω/□

　　10～2.00×103Ω/□

　　10～2.00×104Ω/□

　　2.电阻率范围resistivity

　　1～2×103Ω-cm

　　1～2×104Ω-cm

　　1～2×105Ω-cm

　　3.分辨率resolution

　　0.01Ω

　　0.01Ω

　　0.01Ω

　　4.显示读数display

　　液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness.

　　5.测试方式test mode

　　单电测量single electrical measurement

　　6.工作电源working power

　　5V.1000mA

　　7. 误差errors

　　整机不确定性Machine uncertain≤4.5%（标准样片结果standard samples）

　　8.选配choose to buy

　　选配1.方形探头； 选配2.直线形探头；探针间距；选配3:探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles.

　　适用范围Widely used:

　　1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

　　2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，

　　3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，

　　4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，

　　详情描述:

　　1. 自动量程

　　2. 高准确稳定性.

　　3. 双电组合测试方法

　　4. 标准电阻校准仪器

　　5. PC软件运行

　　6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.

　　7. 可显示5位数字.

　　8. 中、英文界面