详细说明
产品名称:LAP-S1000喷雾激光粒度分布仪
技术标准:ISO13320-1:1999，GB/T19077.1-2008
测试范围: 1μm～1000μm
探测单元:66
激光类型:进口光纤半导体激光器
公司简介
首先感谢您对厦门易仕特分析仪器的关注！
我公司坚守“E-高效、A-先进、S-标准、T-可信”的东方仪器制造精神,全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器，为客户提供精确高效的测试方案和高品质产品。LAP-S1000采用分体式设计，适用范围更加宽泛。性能更加稳定、量程更大、适应各种复杂的测试环境，同时LAP-S1000进行了防尘处理。
LAP-S1000喷雾激光粒度分布仪主要性能特点:
LAP-S1000采用了分体式结构，可测试远距离样品， LAP-S1000采用了大平台，即使一体式使用也能满足0.1米到10米的距离上正常测试。
先进的光路设计:LAP-S1000采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计，配备了大功率的半导体激光器；独特的高密度探测单元，让LAP-S1000拥有了超强的小颗粒测试能力，LAP-S1000在1μm～1000μm内无缝测试。同时LAP-S1000又加入了光路自动调整装置，方便操作的同时又延长了仪器的适用寿命。
大功率半导体激光器:LAP-S1000采用了大功率的半导体激光器，增强了仪器的分辨能力，使小颗粒也无处藏身。
光路自动校对:LAP-S1000在喷雾粒度仪中独家首创加入了自动对中功能，LAP-S1000加入的光路自动调整系统，保证了仪器测量的稳定性、准确性。同时大量减少操作者的工作强度。
进口镜头:LAP-S1000采用了日本佳能作为主镜头，畸变小成像高，接收端采用了直径150毫米大口径长焦距镜头，颗粒探测更加精准。
超宽量程:LAP-S1000量程达到了1μm～1000μm。
辅光定位:LAP-S1000独创加入了辅光定位功能，定位时发射端两束激光同时发出，接收端双点吻合后接收端即可启动光路自动调整系统，大大简化了调整难度。
强大的分析软件:强大的分析软件可以随时记录所有激光束的内所有雾滴的粒度分布。在激光束内移动喷雾测试结果可以被连续记录和统计分析。
LAP-S1000
主要技术参数:
| 规格型号 | LAP-S1000 |
| 执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 |
| 测试范围 | 1μm-1000μm |
| 探测器通道数 | 66 |
| 准确性误差 | |
| 重复性误差 | |
| 进样方式 | 开放式进样 |
| 仪器结构 | 一体式或分体式可选 |
| 分体式导轨（选配） | 分体式仪器，测试区域在3米以内可以选配导轨 |
| 激光器参数 | 进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可调 |
| 关键参数 | 测量区 | 分体式:仪器0.1到10米范围可正常测试 |
| 一体式:仪器100mm到340mm |
| 镜头 | 佳能高性能镜头 |
| 镜头保护 | 气幕保护 |
| 进样方式 | 喷射（包含雾滴和固体粉末） |
| 自动对中 | 仪器自动调整光路，电脑软件一键自动完成。 |
| 软件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求 |
| 统计方式 | 体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 |
| 统计比较 | 可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义 |
| 自行DIY | 用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据 |
| 显示模板 | 粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等 |
| 测试报告 | 测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果 |
| 多语言支持 | 中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。 |
| 操作模式 | 电脑操作 |
| 测试速度 | |
| 重量 | 25Kg |
适用范围:
激光粒度仪测试报告