固态硬盘RDT老化测试柜

名称:固态硬盘RDT老化测试柜

供应商:深圳市高盛试验设备有限公司

价格:面议

最小起订量:0/

地址:地址:深圳市龙华区观澜街道启明社区裕昌路95号泰顺工业园

手机:13760149721

联系人:杨叶勇 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:182024790

更新时间:2024-09-12

发布者IP:113.116.150.183

详细说明

  固态硬盘RDT老化测试柜是一种提供高温环境的烘干设备。箱内空气封闭自循环。老化柜内风道为不锈钢结构。工作室内温度由温控仪自动控制,并有自动恒温及时间控制装置,并附设有超温自动停电及报警电路,控制可靠,使用安全。固态硬盘RDT老化测试柜可满足原生NVMe协议支持,兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

  *产品技术参数

  1.1 温度范围:R.T+10 ~ +70℃;

  1.2 波 动 度:±1.0℃;

  1.3 温度偏差:≤±3.0℃;(空载条件下)

  1.4 老化柜内尺寸:D660×W1930×H1450 ,深×宽×高mm;

  1.5 老化柜外尺寸:D1000×W2490×H2160,深×宽×高mm;

  1.6 升温速度:≥2℃/min;(全程平均)

  1.7 老化产品:原生NVMe协议支持,兼容U.2、M.2、SATA全部接口,单盘电流3.5A以上,一次性可老化960PCS产品。

  1.8 整机功率:约27.00KW;

  1.9 电   源:AC380V, 50Hz。