详细说明
ZEM-3 Series可同时测量热电材料的塞贝克系数和电导率；该系列设备具备精度高，易于使用等特点；热电材料塞贝克系数的测量方法是基于JIS标准。
应用:
评估半导体、陶瓷、金属等材料的热电性能。
特点:
1.使用高精度的红外金面反射炉和微加热器进行温差控制；
2.欧姆接触V-I自检系统；
3.测量由电脑控制，可以在指定的温度和温差系进行测量，并消除黑暗电动势的影响。
设备型号:
| 型号: | ZEM-3L | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
| 测量内容: | 塞贝克系数、电导率 |
| 温度范围: | -80℃ to 100℃ | RT, 50 °C to 800 °C | RT, 50 °C to 1000 °C |
| 样品尺寸: | 2 to 4 mm square or φ x 5 to 22 mm length |
| 测量氛围: | 低压He气 |
| 可选配件: | 水冷循环系统；热电发电仿真软件；薄膜附件； |
测量实例 P型Si80Ge20: