低温试验

　　2.1 技术描述

　　低温试验就是将试验样品暴露于标准规定的低温环境中，并保持规定持续时间的试验。按工作状态不同，分为低温贮存试验、低温工作试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在在贮存、运输和使用中对低温环境的适应性。

　　2.2 掌握情况

　　我司可按GB T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A 低温试验方法及GJB 150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法 低温试验.等标准要求，开展低温贮存试验、低温工作试验。可进行常温到-100℃试验，试验箱空间最大为45立方米，是目前国内仅有的几家可以试验到-100℃温度的实验室之一，为国防航天航空产品试验提供有力保障。

　　2.3 用途

　　用于电子元件、家用电器、军用装备、汽车零部件等的低温实验及储存。用于考核产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验。

　　高温试验

　　3.1 技术描述

　　高温试验就是将试验样品暴露于标准规定的高温环境中，并保持规定持续时间的试验。按工作状态不同，分为高温贮存试验、高温工作试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在在贮存、运输和使用中对低温环境的适应性。

　　电子电器产品－高低温试验

　　本部分试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温、高温、高湿度、高湿度与温度组合环境下使用、运输或贮存的能力。