JED-2300T   能谱仪

名称:JED-2300T 能谱仪

供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

价格:面议

最小起订量:1/个

地址:北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦南楼二层

电话:010-68046321/

联系人:捷欧路 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:148032364

更新时间:2019-10-29

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详细说明

  JED-2300T 能谱仪

  JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。

  AnalysisStation

  JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。

  硅漂移检测器(以下简称SDD)的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大,检测灵敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY

  SD100GV检测器(检测面积为100mm2),可同时实现大受光面积和高分辨率, 可以清楚地识别B、C、N、O等轻元素。

  Dry SD100GV

  快速元素面分析

  DRYSD100GV检测器的灵敏度极高,测试Au催化剂颗粒只需一分钟。

  上图: 样品负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒

  装置: JEM-ARM200F +DRYSD100GV检测器

  测试时间: 大约1分钟

  束流电流: 1nA

  像素数: 256x256像素

  实现原子分辨率的面分析

  Sr和Ti的原子列被清楚地分离开来。

  上图: 样品SrTiO3<100>

  装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器

  测试时间: 大约10分钟

  束流电流: 1nA

  像素数: 128x128像素

  play Back(回放)功能

  用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图,不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图,还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用play

  back功能,可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放,可以观察到样品按时间顺序发生的变化,这是至今为止无法实现的。此外,利用play

  back功能还可以截取任意指定的画面。

  上图: 装置JEM-2800+DRYSD100GV检测器

  样品: 岩盐

  像素数: 128x128

  提取的帧号: 398帧s