详细说明
以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M²因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。
由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择，M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
海纳光学提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高达4 KW功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
光束质量分析仪M2Beam产品特点:
-可检测连续激光以及脉冲激光
-独特的断层图像重建技术
-最大25mm光束尺寸测量
-USB3.0接口快速数据传输
-激光质量监控
-可配置采样器，实现高功率激光检测
-即插即用，使用便捷
光束分析仪M2Beam产品规格参数:
-输入光束
| 激光质量分析仪 | M2Beam | M2Beam U3 |
| 技术工艺 | 刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 | USB 3.0接口CMOS 2.4MP内置过滤论 |
| 光谱响应（nm） | SI传感器:350-1100InGaAs传感器:800-1800Enhanced InGaAs 传感器:800-2700 | VIS-NIR:350-1600UV-NIR:220-1350 |
| 激光功率范围 | Si:100 μW-1 W（带衰减片）InGaAs&UV:100 μW-5 mWHP:4 kW以下 | 10μW-100mW，内置滤光轮HP:4 kW |
| 刀口数 | 7 | — |
| 光束尺寸 | 带透镜高达25mm直径（Si&UV版本） |
| 束腰到透镜距离 | 2.0~2.5米最佳最小2米 |
-扫描装配附件
| 材质 | 铝 |
| 透镜焦距 | 300mm（在632.6nm时） |
| 透镜直径 | 25mm |
| 扫描次数 | 140 |
| 最小步进尺寸 | 100μm |
| 扫描长度 | 280mm |
-整机
| 重量 | 2.5kg |
| 尺寸 | 100×173×415 mm |
| 托架 | M6或1/4“固定 |
| 机械调整 | 水平角:±1.5°，垂直角:±1.5° |
| 电缆长度 | 2.5m |
光束分析仪订购信息:
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams