上海精虹海科公司代理的美国ILT ILT2400 SED005/WBS320/W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统:

　　紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统的研究

　　光学分析的10多个进制单位的动态范围

　　Pico-ammeter:10fA至1mA（从100fA至1mA校准）

　　无线通信:内置

　　用户控制或自动:范围、规零/暗零、采样率

　　4-20 mA输出

　　15针D Sub和SMA输入端口

　　“Set it & Forget It”远程数据记录

　　电源:USB或内置充电电池组

　　多系统同时连续监测

　　包括DataLight II软件和Labview采样代码

　　NIST可追溯/ISO17025认证校准

　　采样率高达100 Hz，可编程

　　美国ILT ILT2400 SED005/WBS320/W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统描述:

　　紫外敏感危害探测器设计为在250至400 nm的宽紫外波段上具有高灵敏度，用于紫外敏感危害研究

　　测量

　　测量范围:2.33e-8至2.33e+0 W/cm2

　　光谱范围:250–400 nm

　　配置:ILT5000*，SED005/WBS320/W（探头）

　　*包括软件

　　应用:该检测器经过特殊配置，可准确测量穿过UV波段的宽波部分，用于总UV灵敏度危险监测。

　　滤光片和输入光学元件是可拆卸的，可以与探测器组件分开购买，以允许滤光片和输入光学元件互换。