上海铝电解电容S10K685销售

名称:上海铝电解电容S10K685销售

供应商:深圳市思迪凯电子有限公司

价格:面议

最小起订量:1/台

地址:深圳市宝安区西乡宝源大道广福商务大厦12楼

手机:15989307834

联系人:邓小姐 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:229808129

更新时间:2026-07-26

发布者IP:116.30.139.244

详细说明
产品参数
品牌:深圳市思迪凯电子有限公司
范围:全国
特点:现货供应
产品:压敏电阻 薄膜电容 铝电解电容 吸收电容 热敏电阻 气体放电管 功率因数校正 电源线滤波器
产品优势
产品特点: 深圳市思迪凯电子有限公司主要经营电子元器件,主要包括气体放电管、压敏电阻、热敏电阻(传感器)、薄膜电容、磁材、骨架,滤波器,阻容二三极管,连接器等保护器件。   最早在HID行业与客户有深度的合作和探究取得一定经验与积累,到后来的通讯、汽车、医疗等行业与客户建议了信任与发展,一直致力于被动保护器件的供应和方案。
服务特点: 深圳市思迪凯电子有限公司坚持"以诚为本,以率效服务为信条",致力发展成为合格的电子元器件供应商。   在未来的日子里,我们公司期盼与客户在互利的基础上,携手共创双赢!

  上海铝电解电容S10K685销售

  05D封装系列,压敏电阻压敏电压:18~750V承受浪涌电流:100~800A

  芯片直径:5mm

  响应时间<25ns

  压敏电阻05D封装包含型号有:05D180L、05D220K、05D270K、05D330K、05D390K、05D470K、05D560K、05D680K、05D820K、05D101K、05D121K、05D151K、05D181K、05D201K、05D221K、05D241K、05D271K、05D301K、05D331K、05D361K、05D391K、05D431K、05D471K、05D511K、05D561K、05D621K、05D681K、05D751K。

  除了个别半导体放电管外,它们都具有双向对称特性。5、 陶瓷气体放电管和玻璃放电管的电容都很小,在3pF以下。

  6、 玻璃放电管和半导体放电管的响应速度都很快,在ns量级。

  7、 玻璃放电管的击穿电压可以做得很高,高的达5kV。

  8、 半导体放电管的击穿电压可以做得很淮确。

  它们的缺点分别是,陶瓷气体放电管:

  鉴于它们的电阻取决于施加的电压,它们也可以称为电压相关电阻器。他们更熟悉的名称压敏电阻,来源于这些组件是“可变电阻器”这一事实,压敏电阻这个词是这两个词的缩写。

  压敏电阻电路符号与热敏电阻的符号相似。它由一个矩形的基本电阻符号组成,矩形有一条对角线穿过它,该矩形有一个平行于电阻符号主体的一小段附加部分。这表明压敏电阻的非线性性质。

  压敏电阻电路符号

  信号防雷器电路设计常用的信号传输系统有双线传输线、普通多芯电缆、双绞线多芯电缆、同轴电缆等。在信号防雷器中,可以归纳为双线不接地的传输电路和有接地线的双线或多线传输电路两种。注意:这里的“地”是指“信号地”,而不是指大地(保护地PE)。而根据可能遭遇的雷击浪涌电流大小不同,可以采用两级信号防雷器或单级信号防雷器进行保护。

  单元电路中的过压、过流保护

  USB 3.0 Data Port4.80G bps

  0.05~0.06ns

  USB 2.0 Data Port

  480M bps

  0.5~0.6ns

  USB 1.0 Data Port

  12M bps

  5~10 pF

  Wireless Device

  是集陶瓷气体放电管的大浪涌通流能力和半导体放电管的响应于一体的防雷元器件,克服了原气体放电管响应速度慢(μs 级)和半导体放电管耐浪涌电流弱的缺点,是 20 世纪末新推出的防雷器件,它兼有陶瓷气体放电管和半导体过压保护器的优点:缘电阻高、间电容小(≤0.8pF)、放电电流较大(大达 3kA)、双向对称性、反应速度快(不存在冲击击穿的滞后现象)、性能稳定、导通后电压较低,此外还有直流击穿电压高(高达4500V)、体积小、寿命长等优点。其缺点是直流击穿电压分散性较大(± 20% )。按它的 8/20μs 脉冲放电电流 I PP 的大小分为 UNC(3kA) 、 UNB(1kA) 、UNA(500A) 三个系列。薄膜电容的金属化电极与安全防护机制

  金属化薄膜电容采用真空蒸镀工艺在薄膜表面沉积一层厚度为20至100纳米的铝或锌铝合金电极层。这种电极结构使得电容器在承受过压击穿时,击穿点附近的电极层因焦耳热迅速气化并向外扩散,形成直径约1至2毫米的绝缘区域,即前述自愈过程。自愈过程中产生的气体(主要为碳氧化物和金属蒸气)需通过卷绕端面的间隙释放,因此薄膜电容内部通常留有轴向通道或采用多孔芯体设计。然而,多次自愈会导致容量逐步衰减,且每次自愈会消耗周围金属层,当衰减量超过初始容量的5%至10%时,电容器的高频损耗角正切将明显增加。为限制击穿能量,金属化电极的方阻设计需权衡:方阻过高则自愈能量低,但ESR增大;方阻过低则自愈不完全,可能引发热击穿。部分高压薄膜电容还采用串联分段式电极或熔丝结构,以隔离故障区域并防止整体失效。