老化测试系统设备

名称:老化测试系统设备

供应商:深圳市远东腾辉科技有限公司

价格:面议

最小起订量:1/台

地址:深圳市福田区红荔西路22栋万源大厦216室

手机:13537889010

联系人:王燕平 (请说在中科商务网上看到)

产品编号:71848476

更新时间:2021-02-03

发布者IP:113.87.97.142

详细说明

  UBTS系列—通用型集成电路老炼和测试系统是当今世界上最先进的系统,通过EDA独立开发的“重复可定义Firmware”可以方便灵活地将一台系统中不同的PTDM(图形测试驱动模块)全部或部分地定义为数字模块、存储器模块或混合模块,一台系统不仅包含了DBTS、MTBS和HTBS三种系统的功能,而且还具有许多自己独特的性能,其卓越杰出的功能和性能,真正满足了当今所有非大功率器件的老炼和测试要求。 UBTS系统被广泛应用于器件研发、认证和批量生产中,其灵活、完善的测试报告软件可以为研发工程师和可靠性工程师提供丰富的信息。

  产品特点:

  基于独一无二的PTDM模块,将图形产生和测试驱动合二为一

  每个BIB对应一个PTDM模块,每个PTDM模块都有自己的微处理器单元,使不同的BIB可以单独运行不同类型的老炼程序(利用Firmware)

  12到48插槽可以选择,还能为客户提供定制的老炼箱柜

  每个PTDM模块,可以配置多达6个程控电源

  配合EDA的HD/H型BIB,有多达480个金手指和44个低插入力的电源通道

  标准规格或主要参数:

  温度范围:RT+20℃~+150℃或-40℃~+150℃

  256+32个I/O通道,48个激励信号通道

  512M矢量存储器和失效存储器

  32个时钟边沿

  4组参考电平;最多6组程控电源,总共104A电流

  44个大电源通道,每个通道最大电流8A

  模拟通道:4路

  最高频率:50MHz

  连续驱动电流能力:200mA

  Vih:0 V~8 V

  Vil:-0.5V~2V

  Vth:0V~8V

  Vihh:0V~15V

  最大扫描数量:128

  模拟信号发生器能力