EM Compact自动光学检测系统是一款完全创新的轻巧检测方案。安维谱（MVP）的桌上型AOI具有现在配备以前只有在线系统才有的，不可超越的高性能和高分辩率。GEM Compact依靠全面的检测方案，在复杂的检测挑战中有着突破性进展。

　　安维谱在其所有AOI系统中都使用一种软件平台，并且将在线设备的软件引入到桌上型检测系统GEM Compact上。以MVP向导式的易用型编程软件ePro以及自动优化（Auto-Optimize）向导为特色，使得GEM Compact是一款高性价比、功能强大的解决方案，用于低产量、高混合以及新产品引进（NPI）状况。

　　拥有在线式AOI性能的桌上型AOI

　　非常适合于低产量、高混合产品及NPI

　　屡获殊荣的易用型iPro软件

　　可用于回流焊前后

　　程序与在线式AOi兼容

　　较低的拥有成本

　　主要特点包括:

　　只有同类系统一半大小

　　完整的焊点检测

　　完全兼容MVP在线检测系统，程序可通用

　　最佳性价比

　　专有的飞行检测系统为桌上型设备的检测速度带来了质的飞跃

　　测试速度:

　　配置一个140万像素照相机，图像采集速度为34M像素/秒

　　高达32平方厘米/秒（5平方英寸/秒）检测速度，还取决于板的布局、零件密度及视场范围的大小 

　　系统硬件:

　　最先进技术的大规格彩色照相机

　　专利的“飞行”图像采集技术

　　程序控制不同的LED灯光

　　视场范围分辨率17微米/像素

　　系统软件:

　　以CAD为基础，基于算法库和类型库的编程软件

　　已证实的高性能、适应性强的算法，具有极高的缺陷检测能力和很低的误报率

　　完整的网络整合（TCP/IP,NFS协议）

　　实时统计制程控制（SPC）软件包

　　生成检测报告的实用程序

　　检测程序更改追踪

　　第五代成熟的检测软件

　　多层测试技术，可调灯光亮度

　　兼容MVP动态制程控制

　　物理规格:

　　外形尺762（L）*610(W)*355(H)mm(30*24*14")

　　重量55公斤（121磅）

　　最大板尺寸305*406mm（12*16"）

　　上方元件容许高度:55mm（2"）

　　下方元件容许高度:38mm（1.5"）

　　220-240伏，50/60赫兹交流电，10安培

　　选件:

　　用于锡膏和回流焊前检测的低灯

　　条码扫描仪

　　黑色照相机

　　缺陷标签打印机

　　不间断电源（UPS）