数显两槽式冷热冲击试验箱TSD-150F-2P

　　两槽式冷热冲击试验箱是环境可靠性测试中专用的温度冲击设备，核心特点为双区独立恒温、试样动态切换、无温变等待时间，试验效率远高于常规梯度温变设备，能够快速激发产品温度应力缺陷，适合新品可靠性摸底、工艺验证、批次质量筛选与出厂抽检。设备整体工艺精良，结构分区清晰，冷热两区独立，互不干涉，从硬件结构上保障了冲击试验的准确性与重复性。

　　设备制冷系统采用复叠式制冷技术，针对低温工况优化设计，降温速度快、低温锁定稳定，可长期维持-40℃、-60℃、-70℃等超低低温环境，满足产品严苛冲击测试需求。制热系统功率匹配合理，升温均匀稳定，温控精度高，无温度超调现象，保障高温区试验条件标准化。风道循环系统经过优化设计，单区气流循环均匀，温度分布一致，有效避免局部温差导致的试验误差，保证每一次冲击试验数据高度统一、可重复、可溯源。

　　控制系统智能化程度高，操作简单易懂，无需专业人员即可完成参数设置与试验操作。设备可存储多组自定义试验程序，适配不同产品、不同标准的测试方案，一键调取即可启动试验，大幅提升测试效率。设备自带故障自检与中文报警提示功能，故障原因清晰直观，方便快速排查处理，减少停机时间。设备适配半导体、光电、汽车电子、储能电池、精密五金、密封配件等制造领域，是提升产品耐温变性能、优化生产工艺、保障产品长期使用稳定性的重要检测设备。

　　产品用途

　　两槽式冷热冲击试验箱属于温度冲击类可靠性测试设备，遵循GB/T 2423、IEC60068-2-14等标准规范，主要用于测试各类材料、零部件、成品在**瞬时高低温急剧切换**工况下的耐受能力。设备采用高温槽、低温槽双区独立结构，试样通过提篮快速位移切换温区，模拟产品在生产、运输、使用过程中遭遇的骤冷骤热环境，检测试样因热胀冷缩产生的物理形变、结构开裂、焊点脱落、性能衰减及化学变化。广泛应用于电子半导体、芯片元器件、新能源锂电、汽车电子、精密五金、塑胶橡胶、光电显示、通讯器材等行业，适用于新品研发验证、批次可靠性抽检、老化筛选、型式检验与第三方合规检测，帮助企业提前排查温度应力导致的隐性质量隐患。

　　核心技术参数

　　1.升温时间:+60℃→150℃≤25min

　　2.降温时间: +20℃→-60℃≤60min

　　3.低温室: -60℃→-10℃

　　高温室: +60℃→+150℃

　　4.温度冲击范围: 60℃→-150℃→-40℃--10℃

　　5.温度偏差: ±2.0℃

　　6.温度波动度:±0.5℃

　　7.温度均匀度:≤±2.0℃

　　8冲击切换时间:≤10s（试样跨区切换）

　　9温度恢复时间:≤5min

　　10冲击循环次数:0～9999次可设定

　　11输入功率:4KW～9KW（按机型容积与低温配置适配）

　　12工作电压:AC380V 50Hz 三相五线制

　　13.箱体材质:内胆SUS304不锈钢、外壳冷轧钢板静电喷涂

　　14.制冷方式:风冷复叠式制冷

　　15.安全配置:超温、过载、高低压、延时、缺水、断电记忆保护