产品概述

　　产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备

　　产品名称:镀层厚度测试仪

　　型 号:iEDX-150T

　　生 产 商:韩国ISP公司

　　亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

　　产品特征

　　高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

　　计算机 /MCA(多通道分析仪)2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析，可以增加RoHS检测功能。

　　MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析励磁模式50987.1 DIN / ISO 3497-A1吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2线性模式进行薄镀层厚度测量相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 多镀层厚度同时测量单镀层应用 [如:Cu/ABS等]双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]合金镀层应 [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05ktSmart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

　　Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

　　完整的统计函数均值、标准差、低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

　　自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量= 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和多点测量功能。 产品优势

　　镀层检测，最多镀层检测可达5层，精度及稳定性可控制在+/-5%内。

　　仪器尺寸:618*525*490mm，样品移动距离:160*150*90mm。

　　激光定位和自动多点测量功能。

　　可检测固体、粉末状态材料。

　　运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

　　可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

　　操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。

　　可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

　　软件终身免费升级。

　　无损检测，一次性购买标样可永久使用。

　　使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供全方位保姆式服务。

　　可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

　　可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。