百色优质皮线光缆分类有哪些

　　渐变型光纤:光纤中心芯到玻璃包层的折射率是逐渐变小，可使高模光按正弦形式传播，这能减少模间散，提高光纤带宽，增加传输距离，但成本较高，现在的多模光纤多为渐变型光纤。光纤制造与衰减:现在光纤制造方法主要有:管内CVD（化学汽相沉积）法，棒内CVD法，PCVD（等离子体化学汽相沉积）法和VAD（轴向汽相沉积）法。造成光纤衰减的主要因素有:本征，弯曲，挤压，杂质，不均匀和对接等。本征:是光纤的固有损耗，包括:瑞利散射，固有吸收等。弯曲:光纤弯曲时部分光纤内的光会因散射而损失掉，造成的损耗。挤压:光纤受到挤压时产生微小的弯曲而造成的损耗。杂质:光纤内杂质吸收和散射在光纤中传播的光，造成的损失。不均匀:光纤材料的折射率不均匀造成的损耗。对接:光纤对接时产生的损耗，如:不同轴（单模光纤同轴度要求小于0.8μm），端面与轴心不垂直，端面不平，对接心径不匹配和熔接质量差等。

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　　正增益现象处理:在OTDR曲线上可能会产生正增益现象。正增益是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。事实上，光纤在这一熔接点上是熔接损耗的。常出现在不同模场直径或不同后向散射系数的光纤的熔接过程中，因此，需要在两个方向测量并对结果取平均作为该熔接损耗。在实际的光缆维护中，也可采用≤0.08dB即为合格的简单原则。附加光纤的使用:附加光纤是一段用于连接OTDR与待测光纤、长300～2000m的光纤，其主要作用为:前端盲区处理和终端连接器插入测量。一般来说，OTDR与待测光纤间的连接器引起的盲区大。在光纤实际测量中，在OTDR与待测光纤间加接一段过渡光纤，使前端盲区落在过渡光纤内，而待测光纤始端落在OTDR曲线的线性稳定区。光纤系统始端连接器插入损耗可通过OTDR加一段过渡光纤来测量。如要测量首、尾两端连接器的插入损耗，可在每端都加一过渡光纤。

　　这种光缆的特点；一是耐受很大的静水压力 （每深10m增加压力为1吨。）和施放过程中的拖曳力；二是能防止氢入侵光纤。已经证实，氢会导致光纤增大衰减；三是中继段跨距大。

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　　对测试量程的设定，一般根据中继段长度，选择合适的量程，使整个中继段曲线占据整个显示屏幕的２／３为宜；测试波长根据系统采用的波长确定，对长途干线光缆一般为1310nm和1550nm折射率根据使用厂家的光纤折射率设定；脉冲宽度是一个重要的设置参数，脉冲宽度过小，测试的动态范围太小，不能完整地测试整个曲线，表现为曲线末端噪声信号大，所得到的曲线质量差；脉冲宽度过大，测试的范围越大，但测试的度越差，一般根据被测中继段长度，选择一个合适的测试脉冲宽度，既要考虑测试距离，还要考虑测试精度，通过试测，选择一个合适的脉冲宽度；平均化时间的设定根据平均化的曲线质量试验确定，使平均化后的曲线尾端上无明显毛刺即可。为了地确定线路上光纤故障点的位置，可利用OTDR分析软件对仪表测试出的曲线进行分析，一般有接头盒内故障和缆身故障两种情况。