孝感高品质皮线光纤光缆品牌有哪些

　　测试误差的主要因素设定仪表的折射率偏差产生的误差。不同类型和厂家的光纤的折射率是不同的。使用OTDR测试光纤长度时，行仪表参数设定，折射率的设定就是其中之一。当几段光缆的折射率不同时可采用分段设置的方法，以减少因折射率设置误差而造成的测试误差。量程范围选择不当OTDR仪表测试距离分辩率为1米时，它是指图形放大到水平刻度为25米/格时才能实现。仪表设计是以光标每移动25步为1满格。在这种情况下，光标每移动一步，即表示移动1米的距离，所以读出分辩率为1米。如果水平刻度选择2公里/每格，则光标每移动一步，距离就会偏移80米。由此可见，测试时选择的量程范围越大，测试结果的偏差就越大。

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　　脉冲宽度选择不当在脉冲幅度相同的条件下，脉冲宽度越大，脉冲能量就越大，此时OTDR的动态范围也越大，相应盲区也就大。平均化处理时间选择不当OTDR测试曲线是将每次输出脉冲后的反射信号采样，并把多次采样做平均处理以消除一些随机事件，平均化时间越长，噪声电平越接近小值，动态范围就越大。平均化时间越长，测试精度越高，但达到一定程度时精度提高。为了提高测试速度，缩短整体测试时间，一般测试时间可在0.5~3分钟内选择。

　　光缆(optical fiber cable)是为了满足光学、机械或环境的性能规范而制造的，它是利用置于包覆护套中的一根或多根光纤作为传输媒质并可以单独或成组使用的通信线缆组件。

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　　渐变型光纤:光纤中心芯到玻璃包层的折射率是逐渐变小，可使高模光按正弦形式传播，这能减少模间散，提高光纤带宽，增加传输距离，但成本较高，现在的多模光纤多为渐变型光纤。光纤制造与衰减:现在光纤制造方法主要有:管内CVD（化学汽相沉积）法，棒内CVD法，PCVD（等离子体化学汽相沉积）法和VAD（轴向汽相沉积）法。造成光纤衰减的主要因素有:本征，弯曲，挤压，杂质，不均匀和对接等。本征:是光纤的固有损耗，包括:瑞利散射，固有吸收等。弯曲:光纤弯曲时部分光纤内的光会因散射而损失掉，造成的损耗。挤压:光纤受到挤压时产生微小的弯曲而造成的损耗。杂质:光纤内杂质吸收和散射在光纤中传播的光，造成的损失。不均匀:光纤材料的折射率不均匀造成的损耗。对接:光纤对接时产生的损耗，如:不同轴（单模光纤同轴度要求小于0.8μm），端面与轴心不垂直，端面不平，对接心径不匹配和熔接质量差等。