天津优质光纤光缆工厂

　　成端过程中产生的大衰耗点在光缆成端过程中，也经常会产生大衰耗点。在成端时，由于一般不进行熔接损耗监测，仅凭经验操作，因此，产生大衰耗点的几率也大增。此外，在光纤熔接后安装收容盘时，往往造成收容盘附近的光纤束管弯曲半径过小或造成光纤束管拧转变形，使光纤在此处产生一个较大的衰耗点，此类大衰耗点一般比较隐蔽，不像线路中间的大衰耗点用OTDR可以直接测出。光缆大衰耗点的查找定位和处理一般产生大衰耗点的位置光缆接续完成后，我们一般要对整个中继段用OTDR进行测试，通过测试，可以检验接续完的光缆中继段的光特性是否符合施工规范和验收标准的要求，主要从以下几个方面进行考核:中继段全程总衰耗是否小于设计规定（也就是平均衰耗系数是否小于设计规定值）；中继段接头双向平均衰耗值是否小于验收标准和设计要求；中继段后向散射曲线是否斜率均匀，曲线平滑，除正常的接头衰耗点的小台阶外，曲线上应无大衰耗台阶。利用OTDR进行光中继段测试和人衰耗点定位时，首先应正确地设置仪表的测试参数，诸如测试量程、测试波长、脉冲宽度、折射率和平均化处理时间等。

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　　光纤接续工序。端面制备:光纤接续之前，使光纤端面形成与轴线垂直的镜面，这是利用脆性玻璃的应力断裂原理来实现的。对准方法有监控光功率的方法(功率监控法)及直接观察纤芯位置法(纤芯直视法)。熔接:电弧熔接使光纤在电弧作用下自身熔化合为一体达到光纤接续的目的。增强:对光纤熔接部位增强以确保接续处具有普通光纤同等以上的性，因此采用热可缩加强管补强。光纤接续损耗的测量方法利用OTDR后向散射法。用此方法能测量光纤的衰减、衰减常数、光纤接续损耗、光纤长度等。光纤束及光纤的盘留光缆由于受温度等外力影响，产生热胀冷缩现象，对光缆内部结构带来一定影响，不同材质组成的光缆结构在温度的变化下，产生出不同的伸缩变化。影响光缆接头的稳定性和传输质量，针对以上情况，在光缆接头盒内应该进行光纤束管预盘留，通过光纤束管的预留来抵消热胀冷缩现象给光缆接头带来的影响，从而确保整个接头的稳定性和传输质量。

　　这种光缆的特点；一是耐受很大的静水压力 （每深10m增加压力为1吨。）和施放过程中的拖曳力；二是能防止氢入侵光纤。已经证实，氢会导致光纤增大衰减；三是中继段跨距大。

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　　对测试量程的设定，一般根据中继段长度，选择合适的量程，使整个中继段曲线占据整个显示屏幕的２／３为宜；测试波长根据系统采用的波长确定，对长途干线光缆一般为1310nm和1550nm折射率根据使用厂家的光纤折射率设定；脉冲宽度是一个重要的设置参数，脉冲宽度过小，测试的动态范围太小，不能完整地测试整个曲线，表现为曲线末端噪声信号大，所得到的曲线质量差；脉冲宽度过大，测试的范围越大，但测试的度越差，一般根据被测中继段长度，选择一个合适的测试脉冲宽度，既要考虑测试距离，还要考虑测试精度，通过试测，选择一个合适的脉冲宽度；平均化时间的设定根据平均化的曲线质量试验确定，使平均化后的曲线尾端上无明显毛刺即可。为了地确定线路上光纤故障点的位置，可利用OTDR分析软件对仪表测试出的曲线进行分析，一般有接头盒内故障和缆身故障两种情况。