塗鍍層檢測項目

　　測試目的:鍍層厚度對產品的表面性能有著至關重要的影響，通過對鍍層厚度的管控可以有效的控制產品質量。

　　方法1:X射線熒光測厚法簡介

　　特點:能夠在樣品無損的情況下進行快速、准確量測, 並可測量極薄鍍層，最低可至0.005µm，但需要大量高精度膜厚標准片，並定期進行校准。

　　原理:不同金屬類別及厚度的鍍層在X-Ray光管發出的初次X-Ray光照射下，將激發產生相應強度和頻率的特征熒光X-Ray，利用探測器收集這些特征訊號，通過電腦軟件處理來量測金屬鍍層的厚度或合金鍍層的厚度及組成。

　　適用範圍:常用金屬/塑膠基底上之單層或多層金屬鍍層厚度測量，如Au/Ni/基材工藝之Au&Ni厚度。

　　參考標准:GB/T 16921-1997 & ASTM B568-98

　　測試報告示例:

　　（1）測試設備:

　　（2）環境條件:溫度:22±3℃；  濕度:55±10%RH

　　（3）參考標准:ASTM B 568-98

　　（4）測試樣品:001

　　（5）測試條件:將樣品直接放入X-Ray膜厚儀中，對指定部位進行膜厚測試。

　　（6）測試結果:     

　　方法2:顯微鏡法（金相顯微鏡法、掃描電子顯微鏡法）

　　特點:流程繁鎖，制樣水平要求高，對低于0.1µm以下鍍層極難准確測量。

　　原理:從待測件上指定部位垂直于覆蓋層切割塊試樣，經過鑲嵌（一般冷鑲）、研磨、拋光和浸蝕制成橫截面金相試樣，利用金相顯微鏡或掃描電子顯微鏡對其鍍層放大拍照及量測。

　　適用範圍:基本適用于所有單層或多層金屬鍍層或塗層厚度測量。

　　參考標准: GB/T 6462-2005 & JB/T 7503-94

　　測試報告示例:

　　（1）測試設備

　　（2）環境條件:溫度:23±2℃；  濕度:55±10%RH

　　（3）參考標准:GB/T 16594-1996

　　（4）測試結果

　　公司 名称 : 广州广分质检院

　　公司 地址 :广州市番禺区大石105国道金怡大厦307A 质检中心