韩国微先锋X光测厚仪/XRF-2000测厚仪

　　测量样品高度10cm内

　　检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

　　可测单层,双层,多层,合金镀层,

　　测量范围:0.04-35um

　　测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

　　全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

　　仪器功能

　　全自动台面

　　自动雷射对焦

　　多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

　　测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)

　　镀层厚度测试范围:0.04－35um

　　可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

　　每层镀层都可分开显示各自厚度.

　　测量时间:10－30秒

　　精度控制:

　　第一层:±5%以内

　　第二层:±8%以内

　　第三层:±12%以内

　　韩国微先锋X光测厚仪/电镀膜厚测试仪

　　XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值

　　同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

　　甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

　　可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

　　可测元素范围:钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92

　　准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm

　　自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm

　　电脑系统:液晶显示器，彩色打印机

　　综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能