Q8344A提供了大0.05nm(在0.85μm)的波长分辨率，适合于测量窄模式间隔的激光二极管。不论分析的跨度多少，测量速度进约为1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到1.75μm），使它可以作为系统一部分。

　　Q8344A具有全面的显示、分析和处理功能，它可以对诸如激光二极管和LED之类的光发射元件以及光纤和滤波器光元件进行特性测量。

　　连续测量

　　由于爱德万Q8344A使用了迈克尔逊干涉仪，它可以进行连续测量。这项功能使它可以轻松地对视频光盘的激光二极管的回光所引起的噪声抑制进行评估，分析范围大约为±10mm。

　　1.5秒/扫描的高速测量

　　Q8344A采用傅立叶频谱系统，因而对任何的测量跨度和灵敏度都可以在1.5秒内完成测量。(提供起始波长是0.4μm或更长并 且测量不能同时覆盖短的波长和长波长)。因此，分析仪适合于测量生产线上的激光二极管和LED，并且可以评估光纤和滤波器的传输和损耗的特征。

　　当作为系统组成部分时，分析仪只需要1.5秒就可以完成触发，测量和数据输出。

　　0.05nm的大波长范围

　　在短波长(0.85μm)时Q8344A提供0.05nm的大分辨率，使它可以以全分解振荡模式依次对CD和可视光激光二极管进行测量。

　　大量规光纤输出（选件）

　　200μm大量输出可以作为选件使用。当分析波长大于标准光纤量规(GI50μm)的装置时，可选用此选件。对激光二极管分析，推荐标准50-μm规格，对LED分析，推荐选用规格。