梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能，完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。

　　梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

　　标准配置

　　内置称量应用程序

　　TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置

　　SmartTrac彩色动态图形显示器:图形称量辅助，跟踪称量范围和公差

　　可设置多达10个特定功能的快捷键

　　可定义3个的信息，用于用户和样品标识

　　型号:XS3DU微量天平

　　内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作

　　第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件

　　手动开关门的玻璃防风罩

　　可更换的显示屏保护盖

　　下挂钩称量

　　具有过载保护的称量传感器

　　显示多种质量单位

　　差重称量应用程序

　　计件和百分比称量应用程序

　　统计应用程序

　　技术指标

　　极限值

　　XS3DU 双量程

　　最大称量值

　　3.1 g

　　可读性

　　0.01 mg

　　最大称量值

　　型号:XS3DU微量天平

　　0.8 g

　　可读性

　　0.001 mg

　　重复性(sd) - 加载处

　　0.006 mg

　　- 低加载（加载处）

　　0.005 mg (0.2 g)

　　重复性(sd) - 加载处

　　0.001 mg

　　- 低加载（加载处）

　　0.0008 mg (0.2 g)

　　线性误差

　　0.004 mg

　　四角误差（加载处）1)

　　0.005 mg (2 g)

　　典型值 4)

　　典型重复性（sd）

　　0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

　　典型微分非线性（sd）

　　√2x(10-12)g·R_nt

　　典型微分四角误差（sd）

　　1.2 x (10–6)•R_nt

　　典型灵敏度偏移（sd）2)

　　3 x (10–6)•R_nt

　　典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)

　　0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

　　典型稳定时间

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