详细说明
SIRIUS Compact Scan系列三维扫描仪
SIRIUS Compact Scan 1.3M
经典型三维光学扫描仪
作为一款轻便、高度移动性的，SIRIUS Compact Scan 系列同样采用最新的蓝光技术, 结合ScanTEK Softeware 专业测量软件, 为您提供一套完整的, 性价比更高的扫描系统。
产品特点:
智能三维光学动态测量技术，自动拼接，轻松获取工件表面高精度、高密度的三维点云数据；
面轮廓扫描方式，极高效率，高分辨率的体现工件细节；
通过安装不同的镜头组，可以覆盖数毫米至数米范围内的工件扫描，不仅扫描速度快，还可以兼顾边界、特征的扫描；
扫描头通过特殊防护设计，可以实现生产车间的现场测量；
千兆网络数据接口设计，保障了数据超快传输的同时，不失真。
技术规格:
| | SIRIUS Compact Scan 1.3M |
| 测量点 | 2x1,300,000 |
| 测量点距 | 0.03-0.12mm |
| 工作距离 | 200-330mm |
| 最快扫描时间:秒 | 3秒 |
| 电缆长度 | 3-10m |
| PC | 台式64位高端工作站，配置WIN7 |
| 可用软件 | ScanTEK Software |
| 扫描测头支撑 | 三角架或立柱式支架 |
| 工作温度 | 5-40℃ |
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