广州镀层检测分析中心华瑞测镀层检测分析中心配备了先进的莱卡显微镜、SEMEDS、XRF、TEM/EDS、XPS、AES分析仪和经验丰富的高级分析技术人员、升级检测分析数据库，可对多元素金属材料、铝材，铜合金，镀层元素检测、异物成分检测、镀层厚度检测、表面形貌分析及系统成因筛选、让你足不出户了解材料参数，系统有备份了每一项检测数据。谢谢支持！

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　　各方法适用范围与特点如下:

　　1、金相测厚。使用设备为金相显微镜。此方法适用于测量厚度＞1μm的金属膜层，可同时测量多层。被测样品需要经垂直于待测膜层取样进行金相制样，再在金相显微镜下观察并拍照测量待测膜层厚度。SEM测厚。使用设备为扫描电子显微镜（SEM）。此方法测试范围宽，适用于测量厚度0.01μm~1mm的金属或非金属膜层。样品前处理与金相测厚相同。配有能谱附件（EDS）的SEM设备可以确定每一层膜层的成分