详细说明
SP80集长测针的测触能力与超高精度的性能于一体,是诸多应用的首选扫描测头。
SP80扫描测头
SP80轴套式安装扫描测头采用数字刻度和读数头技术,加上雷尼绍创新的分离光学测量原理,即使
配用长测针也能够提供卓越的扫描性能。
通过搭配长达1000 mm,重500 g的测针(包括不受平衡影响的星形配置),SP80可以测触工件较深
部位。雷尼绍的M5测针用于配合SP80使用,以确保其达到最佳性能。
系统主要优点:
使用能提供0.02 μm分辨率的数字读数头,实现超高精度扫描
可配用长达1000 mm,重500 g(不平衡)的大直径/偏重测针
由于测头内的低悬浮质量,可实现快速动态响应
可重复测针交换,方便快速、灵活检测工件的测触能力,便于检测各种零件特征。
测针交换的灵活性是雷尼绍测头设计的关键部分。SP80使用模块交换架系统 (MRS2),可与其他扫
描测头(REVO、SP25M和SP600)以及ACR3自动交换架兼容。
用于SP80 (SCP80) 的多测头交换端口可连接在MRS2横梁上的任意所选位置,具体取决于您的应用
中采用的测针组合的空间要求。