TDD-LTETSPA无线干扰分析仪

　　该仪表同步TDD-LTE系统，精准测量TDD-LTE下行频谱，上行频谱，无线底噪，精准测量干扰频谱特征，快速定位干扰源。无需关闭周边基站，全程对周边用户业务0影响。

　　TSPA无线干扰分析仪为全球第一款能够精确定位区分TDD-LTE上行系统内、系统外干扰的测试仪表。可精确定位到干扰源来自那个小区，定位超CP时延间隔的干扰基站。全球首创底噪测量模式，可精确呈现干扰频谱频域特征，同时可锁定干扰源进行时域分析，解析速度高达1微秒的时域符号或帧结构分析（即1微秒，最高可达到100纳秒的信号）。

　　LTE干扰排查测试技术全球领先:

　　填补TDD频谱测量工具空白

　　完整扫描频谱（20MHz）,扫描速度（RBW<200KHz）小于10的负7次方秒（10纳秒）；

　　10纳秒级别无线信号频谱识别灵敏度（10纳秒）

　　扫描速度完整扫描频谱）20MHz,（RBW<200KHz）小于10的负7次方秒（10纳秒）；

　　系统同步速度及效率

　　频谱与TDD_LTE系统同步所需要时间小于2纳秒，为常规剑波同步方法运算量的2%，仿真同步准确率保持99.95%。