仪器简介:

　　XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

　　该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。

　　被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

　　技术参数:

　　1.涂镀层分析范围:氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

　　2厚度最低检出限:0.005μm

　　3.最小测量直径0.2mm（最小测量面积0.03mm²）

　　4.元素分析范围:氯（Cl）- 铀（U）

　　5..成分最低检出限:1ppm

　　检测78种元素镀层·0.005um检出限·最小测量面积0.002m㎡·最深凹糟可达90mm。

　　外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精密0.005mm，速度10-30mm(X-Y)/圈，最小再多的样品都没难度，让操作人员轻松自如。

　　专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，

　　单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

　　多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

　　合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

　　合金成分应用:如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

　　重复镀层应用:不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

　　如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

　　测量面积:最小0.04mm²

　　镀层分析:23层镀层24种元素

　　仪器特点:可手动变焦

　　仪器优势:同元素不同层分析