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　　次变革:以加工制造为主导的IC产业发展的初级阶段。   70年代，集成电路的主流产品是微处理器、存储器以及标准通用逻辑电路。这一时期IC制造商（IDM）在IC市场中充当主要角，IC设计只作为附属部门而存在。这时的IC设计和半导体工艺密切相关。IC设计主要以人工为主，CAD系统仅作为数据处理和图形编程之用。IC产业仅处在以生产为导向的初级阶段。   第二次变革:Foundry公司与IC设计公司的崛起。

　　对于相同类型的元器件而言，如果再生产这些电子元器件的过程当中，所使用的材质是不一样的，所以这也是一个影响电子元器件价格的重要因素，而材质不仅仅会影响价格，也会影响使用寿命和质量。

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　　测器件厚度和看器件边沿不少原激光印字的打磨翻新片(功率器件居多)因要去除原标记，打磨较深，如此器件的整体厚度会明显小于正常尺寸，但不对比或用卡尺测量，一般经验不足的人还是很难分辨的，但有一变通识破法，即看器件正面边沿。因塑封器件注塑成型后须"脱模"，故器件边沿角呈圆形(r角)，但尺寸不大，打磨加工时很容易将此圆角磨成直角，故器件正面边沿一旦是直角的，可以判断为打磨货。除此之外，再有一法就是看商家是否有大量的原外包装物，包括标识内外一致的纸盒、防静电塑胶袋等，实际辨别中应多法齐用，有一处存在问题则可认定器件的货质。

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　　万用表应具有较大的内阻，小于被测电路电阻的10倍，以免造成较大的测量误差。通常，每个电位计都旋转到中间位置。如果是电视机，信号源应使用标准彩条信号发生器。测试引线或探头应防滑。由于短路，很容易损坏IC。以下方法可以笔滑:取自行车的气门芯，放在手表的尖端，将手表的尖端长到0.5mm左右，这样可以使手表的尖端与被测点保持良好的接触，并能有效打滑。即使它击中相邻点，也不会短路。当一个引脚的实测电压与正常值不匹配时，应根据引脚的电压是否对ic的正常工作和其他引脚电压的相应变化有重要影响进行分析，可以判断ic。